Anyagok mikroszerkezeti elemzése

A fejlett folyamatszelet{0}}szintű FIB-minta-előkészítési és TEM-elemző szolgáltatások precíz minta-előkészítési és szerkezeti elemzési megoldásokat kínálnak fejlett folyamatchipekhez azáltal, hogy

A GRGTEST Metrology professzionális kettős{0}}sugár-fókuszált ionsugár (DB-FIB) elemzési szolgáltatásokat nyújt. A népszerű tesztelési szolgáltatások közé tartoznak a fejlett folyamatokhoz (14 nm és

A transzmissziós elektronmikroszkópia (TEM) nélkülözhetetlen analitikai eszközzé vált az anyagok és a félvezetők területén. Ez egy elektronoptikai műszer, amely nagy-energiájú elektronsugarat használ

Az ostyahasító berendezések és a SEM képalkotó szolgáltatások kulcsfontosságú technológiai támogatást jelentenek az anyagtudomány, az elektronikai ipar és az orvosbiológiai kutatás számára, és

A Bruker Dimension ICON6 atomerő-mikroszkóp 12 üzemmódot támogat, beleértve az érintkezést, a koppintást és a csúcserő-ütögetést, hogy megfeleljen a különböző minták vizsgálati igényeinek, és

Az EDS az Energy Dispersive Spectrometer rövidítése, amely egy röntgendiszperzív spektroszkópiai módszer. Elve azon a tényen alapszik, hogy a különböző elemek eltérő frekvenciájú vagy energiájú

Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etching