szolgáltatás tartalma
TEM (világos-mezős képek, off-tengelyen sötét-mezős képek, középső sötét-mezős képek, nagy-felbontású képek, gyenge-sugársötét-mezős képek); STEM (HAADF képek, DF képek, BF képek, EDS energiaspektrumok, iDPC képek); diffrakció (szelektív diffrakció, konvergens{7}}sugárdiffrakció, nanosugaras diffrakció)
szolgáltatási fokozat
Chip{0}}kapcsolódó ágazatok (ostyagyárak, félvezető berendezések gyártói, chiptervező cégek stb.); Anyagokkal -kapcsolódó ágazatok (egyetemek, kutatóintézetek és anyagi kutatás-fejlesztési vállalkozások).
Tesztciklus
Tipikus feldolgozási idő: 5-7 munkanap.
Szolgáltatás háttér
A külföldi technológiai blokádok fokozódásával a hazai csúcstechnológiai{0}}vállalkozások nagyobb hangsúlyt fektetnek a független chipek K+F-képességeire, ami elősegítette a félvezető berendezések hazai gyártási fellendülését. Ahogy a chipgyártási folyamatok folyamatosan zsugorodnak, a chipek és a félvezető berendezések fejlesztése egyre inkább a mikroszkopikus analitikai eszközökre, például a TEM-re támaszkodik. A transzmissziós elektronmikroszkópia (TEM) pótolhatatlan szerepet játszik az anyagkutatásban és -fejlesztésben. Kritikus mikroszkopikus szerkezeti információkat biztosít -beleértve a kristályszerkezeteket, a hibákat, az elemi összetételt és a koncentrációkat,- ami segít az anyag tulajdonságainak és viselkedésének elemzésében. A technika is
megkönnyíti a fázisátalakulások és diffúziós folyamatok tanulmányozását, értékes betekintést nyújtva az anyagtervezés és -optimalizálás terén.
előnyeinket
A Guangdian Metrology a TEM-elemzési tesztelési technológiára specializálódott, iparági{0}}vezető szakértői csapattal és fejlett TEM-elemző berendezéssel (Talos F200X G2) büszkélkedhet. Testreszabott TEM elemzési tesztelési megoldásokat kínálunk a különböző ügyfelek K+F igényeihez szabva. Cégünk FIB{5}}TEM-elemzési képességekkel rendelkezik 7 nm-ig és az alatti fejlett folyamatokhoz.
ügy megosztása
Népszerű tags: tem képalkotás és elemzés, Kína tem képalkotó és elemző szolgáltató
