A DDR eszközök, nevezetesen a kettős adatsebesség szinkron dinamikus véletlenszerű hozzáférési memória, nélkülözhetetlen kulcselemek a modern elektronikus eszközökben. A DDR -eszközöket széles körben használják számítógépekben, kiszolgálókban, kommunikációs berendezésekben és alacsony energiafogyasztásban, nagy sebességű, nagy kapacitásukkal és fogyasztói elektronikájukkal. A tudomány és a technológia gyors fejlődésével a DDR -eszközöket folyamatosan frissítik, és a teljesítménykövetelményeket is folyamatosan javítják. Elektromos paraméter -tesztje kulcsfontosságú linkévé vált a termék minőségének és a stabil teljesítmény biztosításához.
Az elektromos teljesítmény paraméterek, mivel az áramkörben lévő DDR -eszközök viselkedési jellemzőinek alapvető leírása tükrözi az eszköz integrált teljesítményét a különböző működő állapotokban. Az adatátviteli sebesség és a késleltetési idő. Ezek a paraméterek döntő szerepet játszanak a DDR -eszközök teljesítményében.
Pontosabban, a működő áram mérete közvetlenül kapcsolódik a DDR -eszköz alkalmazási környezetéhez és energiafogyasztási szintjéhez; Az óra gyakorisága és az adatátviteli sebesség együttesen határozza meg a DDR eszköz adatfeldolgozási kapacitását; És a késleltetési idő olyan tényező, amely befolyásolja a rendszer válaszsebességét és általános teljesítményét.
Nevezetesen, szignifikáns különbségeket mutattak az elektromos teljesítmény paramétereiben és a munkakörülményekben. Annak érdekében, hogy betekintést nyerjünk ezekbe a különbségekbe, hivatkozhatunk a vonatkozó eszköz kézikönyvekre. Például a következő ábra a DDR eszköz specifikációjának címoldalát mutatja. Részletes elektromos teljesítmény paraméterek és munkakörülmények A specifikációs könyvből szerezhető be. Ez az információ elengedhetetlen a DDR -eszközök helyes kiválasztásához és alkalmazásához.
Fő vizsgálati berendezés
V 93000- cth
Felszerelés funkciói:
1. -
2. Fogadja el a fejlett okosabb szoftverplatformot, hogy hatékony programozási és tesztelési funkciókat biztosítson a felhasználók számára, így a tesztprogramok fejlesztése gyorsabbá és hatékonyabbá válik.
3. platform A digitális tesztcsatornák száma szempontjából, a V 93000- CTH kiváló méretezhetőséggel rendelkezik, amely 128 csatornáról 2048 csatornára terjedhet ki (128 csatornával, mint minimális bővítőegység).
4. Ezenkívül az eszköz támogatja a digitális csatornakártya keverésének különféle tesztsebességét is, hogy megfeleljen a különböző tesztkövetelményeknek.
5. Hatékony teszthatékonyság: v 93000- A CTH kiváló tesztsebességgel rendelkezik. A hagyományos vizsgálati berendezéssel összehasonlítva gyorsabban elvégezheti a tesztfeladatokat, ezáltal javítva a teszt hatékonyságát.
Vizsgálati eset
A DDR különféle elektromos paraméterei közül a kritikus DC paraméterek tartalmazzák az IDD 0, IDD 1 (egy bankáram működtetését), IDD2 (Precharge áram), IDD3 (aktív áram), IDD4 (operációs sorozat írási/olvasási áram működési/olvasási áram működése) ). Néhány száz milliamp.
A legfontosabb AC paraméterek a TCK (System Clock), a TAC (DQ kimeneti hozzáférési idő a CK / CK #), a TDQSCK (DQS / DQS #RISing -re / CK / CK #) stb. Általában a nanosekundumos paraméter, és a legfontosabb paraméterek, mint például a TDQSCK, a pikosekundum késleltetési paraméter.
A következő csoport a GRGTEST tesztelésének vázlatos diagramja egy bizonyos DDR -eszközt. A megfelelő tesztlapot és a teszt rögzítőt a megfelelő konfigurált ATE platformon teszteljük.
A bal oldalon a DDR -eszköz kulcsfontosságú paramétereinek tesztadatait V 93000- cth fejezi ki; A jobb oldalon található az elektromos jellemző paraméterek listája az azonos modell vállalatának meghatározásában.
TEST képesség
A GRGTEST bemutatja a fejlett teszttechnikát és berendezéseket otthon és külföldön, és felépíti a DDR -eszközökkel kapcsolatos kulcsfontosságú paraméterek teszt- és fejlesztési képességét. Ezenkívül a GRGTEST elkötelezett a diverzifikált eszközök, például a Digital Logic Chip, a Hybrid Signal Chip és a System SoC chip fejlesztése mellett, amely erős ellenőrzési garanciát nyújt a kínai chipipar diverzifikált fejlesztése és a chiptermékek zökkenőmentes megjelenítéséhez.